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葉面積指數(shù)測定方法(葉面積指數(shù)儀)

更新時間:2020-09-15      點擊次數(shù):2917

在農(nóng)業(yè)生產(chǎn)中,葉面積指數(shù)是植物生產(chǎn)力的一個重要參數(shù),很多農(nóng)業(yè)種植工作人員都會通過對葉面積指數(shù)的測定來對植物進(jìn)行合理的農(nóng)事作業(yè)。葉面積指數(shù)的測定方法有很多種,可分為直接測量和間接測量,不過在這些測定方法中,目前市場上應(yīng)用比較廣泛的就是使用葉面積指數(shù)測定儀來測定,本文就和大家簡單介紹一下葉面積指數(shù)測定儀儀及其他葉面積指數(shù)測定方法。

托普云農(nóng)*300葉面積指數(shù)測定儀采用上一致采用的原理(比爾定律以及冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理),通過魚眼鏡頭成像和CCD圖像傳感器測量冠層數(shù)據(jù)和獲取植物冠層圖像,利用軟件對所得圖像和數(shù)據(jù)進(jìn)行分析計算,得出冠層相關(guān)指標(biāo)和參數(shù)。具有準(zhǔn)確、省時省力、快捷方便的特點。具體地葉面積指數(shù)測定可測量葉面積指數(shù)、葉片平均傾角、散射輻射透過率、不同太陽高度角下的直射輻射透過率、不同太陽高度角下的消光系數(shù)、葉面積密度的方位分布、冠層內(nèi)外的光合有效輻射(PAR)等。

當(dāng)然除了以上所介紹的使用葉面積指數(shù)測定儀來測定葉面積指數(shù)之外,還有其他測定方法,具體如下:

1、點接觸法:點接觸法是用細(xì)探針以不同的高度角和方位角刺入冠層,然后記錄細(xì)探針從冠層頂部到達(dá)底部的過程中針尖所接觸的葉片數(shù)目。

  2、消光系數(shù)法:該法通過測定冠層上下輻射以及與消光系數(shù)該法通過測定冠層上下輻射以及與消光系數(shù)相關(guān)的參數(shù)來計算葉面積指數(shù)。

  3、經(jīng)驗公式法:經(jīng)驗公式法利用植物的胸徑、樹高、邊材面積、冠幅等容易測量的參數(shù)與葉面積或葉面積指數(shù)的相關(guān)關(guān)系建立經(jīng)驗公式來計算。

  4、遙感方法:衛(wèi)星遙感方法為大范圍研究LA I提供了有效的途徑。主要有2種遙感方法可用來估算葉面積指數(shù),一種是統(tǒng)計模型法。另一種是光學(xué)模型法。

  5、光學(xué)儀器法:光學(xué)儀器法按測量原理分為基于輻射測量的方法和基于圖像測量的方法。zs

 

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